Structure Analysis of Advanced Nanomaterials - Vol.1 - Nanoworld by High-Resolution Electron Microscopy
Gebundene Ausgabe, Sprache: Englisch - zu den Produktdetails
von Takeo Oku
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Produktdetails
Verlag | De Gruyter |
Auflage | 2014 |
Seiten | 168 |
Format | 17,5 x 1,3 x 24,4 cm |
Gewicht | 496 g |
Artikeltyp | Englisches Buch |
ISBN-10 | 3110304724 |
EAN | 9783110304725 |
Bestell-Nr | 11030472A |
Produktbeschreibung
High-resolution electron microscopy allows the imaging of the crystallographic structure of a sample at an atomic scale. It is a valuable tool to study nanoscale properties of crystalline materials such as superconductors, semiconductors, solar cells, zeolite materials, carbon nanomaterials or BN nanotubes.
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