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Practical Guide to Materials Characterization

Practical Guide to Materials Characterization - Techniques and Applications

Gebundene Ausgabe, Sprache: Englisch
von Khalid Sultan
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Produktdetails  
Verlag Wiley-VCH
Auflage 2022
Format 17,5 x 1,5 x 25,0 cm
Gewicht 574 g
Artikeltyp Englisches Buch
ISBN-10 3527350713
EAN 9783527350711
Bestell-Nr 52735071A
Produktbeschreibung  

The practice-oriented book provides a hands-on overview of the most relevant materials characterization techniques in fields such as materials science, chemistry, physics, engineering and life sciences.

Inhaltsverzeichnis:

BASICS OF MATERIAL CHARACTERIZATION TECHNIQUES
Introduction
Electromagnetic Spectrum
Fundamentals of Crystallography
Molecular Vibrations
Magnetism in Solids
Optical Properties of Solids

X-RAY DIFFRACTION
Introduction
Bragg's Law
Von Laue Treatment: Laue's Equation
Experimental Techniques
Geometry and Instrumentation
Stadard X-Ray Diffraction Pattern
Applications
Examples and Illustrations

RAMAN SPECTROSCOPY
Introduction
Infrared and Raman Spectroscopy
Raman Spectra: Origin
Classical Theory of Raman Scattering
Quantum Theory of Raman Spectroscopy
Raman Spectrometer
Resonance Raman Spectroscopy
Special Techniques
Applications and Illustrations

X-RAY SPECTROSCOPIC TECHNIQUES
X-Ray Absorption Spectroscopy (XAS)
X-Ray Photoelectron Spectroscopy (XPS)
Auger Electron Spectroscopy (AES)

MAGNETIC MEASUREMENTS
Introduction
Magnetization Measuring Instruments
Advantages and Disadvantage of Vibrating Sample Magnetometer (VSM)
Susceptibility Measurement
Examples and Illustrations

DIELECTRIC MEASUREMENTS
Introduction
Polarization and Dielectric Constant
Mechanism for Colossal Dielectric Response
Frequency Dependence of Polarizability
Classification of Dielectric Materials
Dielectric Dispersion: A Brief Discussion
Dielectric Loss and Relaxation
Complex Permittivity
Polarization Build Up
Jonscher's Universal Law
Examples and Illustrations

ELECTRON MICROSCOPY
Introduction
Generation of Electron Beam
Interaction of Electron Beam with Sample
Inelastic Scattering and Absorption
The Family of Electron Microscopes
Atomic Force Microscopy
Examples and Illustrations

INFRARED SPECTROSCOPY
Introduction
Instrumentation for FTIR
Fourier Transform
Electromagnetic Radiation
Infrared Absorption
Normal Modes of Vibration
Complicating Factors
Applications of IR Spe ctroscopy

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1 Mängelexemplare sind Bücher mit leichten Beschädigungen wie angestoßenen Ecken, Kratzer auf dem Umschlag, Beschädigungen/Dellen am Buchschnitt oder ähnlichem. Diese Bücher sind durch einen Stempel "Mängelexemplar" als solche gekennzeichnet. Die frühere Buchpreisbindung ist dadurch aufgehoben. Angaben zu Preissenkungen beziehen sich auf den gebundenen Preis eines mangelfreien Exemplars.

2 Mängelexemplare sind Bücher mit leichten Beschädigungen wie angestoßenen Ecken, Kratzer auf dem Umschlag, Beschädigungen/Dellen am Buchschnitt oder ähnlichem. Diese Bücher sind durch einen Stempel "Mängelexemplar" als solche gekennzeichnet. Angaben zu Preissenkungen beziehen sich auf den ehemaligen gebundenen Preis eines mangelfreien Exemplars.

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6 Der Preisvergleich bezieht sich auf die Summe der Einzelpreise der Artikel im Paket. Bei den zum Kauf angebotenen Artikeln handelt es sich um Mängelexemplare oder die Preisbindung dieser Artikel wurde aufgehoben oder der Preis wurde vom Verlag gesenkt oder um eine ehemalige unverbindliche Preisempfehlung des Herstellers. Angaben zu Preissenkungen beziehen sich auf den vorherigen Preis. Der jeweils zutreffende Grund wird Ihnen auf der Artikelseite dargestellt.

7 Der gebundene Preis des Buches wurde vom Verlag gesenkt. Angaben zu Preissenkungen beziehen sich auf den vorherigen gebundenen Preis.

8 Sonderausgabe in anderer Ausstattung, inhaltlich identisch. Angaben zu Preissenkungen beziehen sich auf den Vergleich Originalausgabe zu Sonderausgabe.

9 Der Preisvergleich bezieht sich auf den Originalpreis eines neuen Exemplares.

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