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Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen

Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen - Simulation mit PSPICE

Taschenbuch
von Peter Baumann
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Produktdetails  
Verlag Springer
Auflage 2024
Seiten 251
Format 17,0 x 1,5 x 23,9 cm
Gewicht 449 g
ISBN-10 3658438207
ISBN-13 9783658438203
Bestell-Nr 65843820A
Produktbeschreibung  

Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms ORCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit PSPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird ausgeführt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler. In einem neuen Abschnitt werden Streuparameter-Analysen zum bipolaren HF-Transistor vorgenommen. Behandelt wird ferner die Ermittlung der Modellparameter von Sensoren zur Erfassung von Temperatur, Licht, Feuchte, Kraft, Schall, Gaskonzentration und pH-Wert. Das abschließende neue Kapitel widmet sich der Parameterextraktion von multikristallinen, monokristallinen und Dünnsc hicht-Silizium-Solarzellen.

Inhaltsverzeichnis:

Halbleiterdioden.- Bipolartransistoren.- HF-Transistoren mit StreuparameternMOS-Feldeffekttransisotoren.- Sperrschicht-Feldeffekttransistoren.-Leistungs-Mos-Feldeffekttransistor.- Operationsverstärker.- Optokoppler.- NTC- und PTC-Sensoren.- RGB-Farbsensor.- Piezoelektrische Summer.- Ultraschallwandler.- Gassensoren.- Ionensensitiver Feldeffekttransistor.- Silizium-Solarzellen

Autorenporträt  
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